JEM-F200 – универсальный 200кВ аналитический просвечивающий электронный микроскоп нового поколения, воплотивший в себе весь многолетний опыт специалистов компании JEOL по разработке удобных в эксплуатации, надежных ПЭМ высокого разрешения.
Использование различных источников электронов (термополевого либо автоэмиссионного), разных полюсных наконечников и разнообразных приставок позволяет сконфигурировать JEM-F200 для исследования любых образцов и решения любых задач.
Ключевые преимущества
• Новый эргономичный, интуитивно понятный интерфейс JEM-F200 разработан специально для аналитического электронного микроскопа.
• Высокостабильная, надежная электронно-оптическая колонна новой конструкции с 4-линзовым конденсором позволяет управлять интенсивностью пучка и углом его сходимости независимо друг от друга.
• Новая схема сканирования в JEM-F200 позволяет проводить сканирование образца электронным пучком не только с помощью системы формирования пучка, но и с помощью системы формирования изображения. Это позволяет получать широкоугольные STEM-EELS изображения.
• Pico Stage Drive позволяет перемещать образец с пикометровым шагом без использования пьезопривода. Эти перемещения можно совершать в широком диапазоне увеличений – от низких (когда видно практически весь образец) до высоких (когда видно отдельные атомы).
• JEM-F200 оснащен автоматическим устройством ввода-вывода образца SPECPORTER, которое автоматически, быстро и безопасно вводит и извлекает держатель образцов из колонны ПЭМ. От оператора требуется лишь поместить держатель в это устройство и активировать SPECPORTER одним щелчком мыши.
• По желанию заказчика JEM-F200 может быть укомплектован автоэмиссионной («холодной») электронной пушкой, которая обеспечивает высочайшую яркость, стабильность, энергетическую когерентность пучка и минимальный уровень сферических аберраций.
• Конструкция JEM-F200 дает возможность проводить быстрый элементный анализ, вплоть до атомного пространственного разрешения, при помощи двух энергодисперсионных спектрометров с безазотным охлаждением и большой площадью детекторов.
• Также разработчиками JEM-F200 предусмотрен энергосберегающий ECO-режим ожидания с сохранением оптимальных рабочих параметров, способный снизить энергопотребление прибора в 5 раз. Планировщик заданий позволяет быстро вернуться в нормальный рабочий режим в заданный день и время.
Полюсный наконечник | Сверхвысокого разрешения | Высокого разрешения |
Разрешение по точкам (TEM), нм | 0,19 | 0,23 |
Разрешение по решетке (TEM), нм | 0,1 | |
Разрешение по решетке (STEM-HAADF), нм | 0,14 (автоэмиссионный катод) 0,16 (катод Шоттки) |
0,16 (автоэмиссионный катод) 0,19 (катод Шоттки) |
Ускоряющее напряжение | 80-200кВ 20-200кВ (опция) |
|
Тип эмиттера | ZrO/W (100) катод Шоттки, либо W <310> автоэмиссионный катод | |
Диапазон увеличений | ПЭМ: х20 – х2 000 000 ПРЭМ: х200 – х150 000 000 |
|
Максимальный угол наклона образца | ±80° (с использованием держателя высокого наклона) | |
Устанавливаемые приставки | Энергодисперсионный спектрометр (ЭДС) – до 2 шт. Спектрометр характеристических потерь энергии электронов Цифровые камеры (ПЗС или КМОП) Система ПЭМ-томографии |