Под заказ

Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-3200FSС

Артикул: 5-363063

  • Электронная пушка ZrO/W (100) Шоттки
  • Увеличение x100 - x1,200,000
  • Длина камеры 250 – 3000 мм

JEM-3200FSC – идеально подходит для получения изображений низкоконтрастных замороженных биологических образцов. JEM-3200FSC имеет источник электронов с полевой эмиссией и встроенный в колонну энергетический Омега-фильтр. Микроскоп сочетает в себе прекрасные аналитические возможности для элементного картирования и получения изображений с нулевыми потерями с высокоразрешающей оптикой.

 

300 кВ полевой источник электронов с катодом Шоттки обеспечивает яркий, когерентный электронный пучок для количественных исследований, которые сейчас являются все более актуальными в различных областях. Особенностью JEM-3200FSC является криогенный столик образцов, охлаждаемый жидким гелием, обеспечивающий исследование образца при температуре менее 25К.

 

Также прибор оснащен столиком образцов бокового ввода с пьезо-перемещением, функцией компенсации дрейфа и возможностью наклона ±70 градусов. Быстрое переключение режимов, полностью компьютеризированное управление и получение данных – стандартные функции данного ПЭМ.

Другие интересные особенности ПЭМ JEM-3200FSC:

 

  • Разрешение по решетке 0.20 нм при температуре 18К
  • Энергетическое разрешение при получении изображений 20 эВ
  • Энергетическое разрешение в режиме спектрометра 0.9 эВ
  • Источник электронов с полевой эмиссией
  • Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
  • Увеличение в диапазоне х100 - х1200000
  • Ручная смена образца

 

Ускоряющее напряжение От 100кВ до 300 кВ
Разрешение: по точкам по решётке
0.17 нм 0.204 нм
Электронная пушка ZrO/W (100) Шоттки
Увеличение x100 - x1,200,000
Длина камеры 250 – 3000 мм
Характеристики объективной линзы: Сферические аберрации Хроматические аберрации
3.4 мм 4.4 мм
Спектрометр Омега-типа, встроенный в колонну
Столик образцов Криогенный, с гелиевым охлаждением
Камера образцов: Количество образцов в одной загрузке Максимальный угол наклона образца на стандартном держателе
1 ±70 градусов
Перемещение образца По X По Y По Z
2,0 мм 2,0 мм 0,4 мм (±0,2 мм)

 

Запросить цену в 1 клик
Комментарии