JEM-3200FSC – идеально подходит для получения изображений низкоконтрастных замороженных биологических образцов. JEM-3200FSC имеет источник электронов с полевой эмиссией и встроенный в колонну энергетический Омега-фильтр. Микроскоп сочетает в себе прекрасные аналитические возможности для элементного картирования и получения изображений с нулевыми потерями с высокоразрешающей оптикой.
300 кВ полевой источник электронов с катодом Шоттки обеспечивает яркий, когерентный электронный пучок для количественных исследований, которые сейчас являются все более актуальными в различных областях. Особенностью JEM-3200FSC является криогенный столик образцов, охлаждаемый жидким гелием, обеспечивающий исследование образца при температуре менее 25К.
Также прибор оснащен столиком образцов бокового ввода с пьезо-перемещением, функцией компенсации дрейфа и возможностью наклона ±70 градусов. Быстрое переключение режимов, полностью компьютеризированное управление и получение данных – стандартные функции данного ПЭМ.
Другие интересные особенности ПЭМ JEM-3200FSC:
- Разрешение по решетке 0.20 нм при температуре 18К
- Энергетическое разрешение при получении изображений 20 эВ
- Энергетическое разрешение в режиме спектрометра 0.9 эВ
- Источник электронов с полевой эмиссией
- Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
- Увеличение в диапазоне х100 - х1200000
- Ручная смена образца
Ускоряющее напряжение | От 100кВ до 300 кВ | ||
Разрешение: | по точкам | по решётке | |
0.17 нм | 0.204 нм | ||
Электронная пушка | ZrO/W (100) Шоттки | ||
Увеличение | x100 - x1,200,000 | ||
Длина камеры | 250 – 3000 мм | ||
Характеристики объективной линзы: | Сферические аберрации | Хроматические аберрации | |
3.4 мм | 4.4 мм | ||
Спектрометр | Омега-типа, встроенный в колонну | ||
Столик образцов | Криогенный, с гелиевым охлаждением | ||
Камера образцов: | Количество образцов в одной загрузке | Максимальный угол наклона образца на стандартном держателе | |
1 | ±70 градусов | ||
Перемещение образца | По X | По Y | По Z |
2,0 мм | 2,0 мм | 0,4 мм (±0,2 мм) |