Товары компании JEOL
- Просвечивающие электронные микроскопы
- Растровые электронные микроскопы
- Установки вакуумного напыления
- Системы для пробоподготовки
- Спектрометры
Артикул: 5-363072
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-F200
Под заказ
- Новый эргономичный, интуитивно понятный интерфейс JEM-F200 разработан специально для аналитического электронного микроскопа.
- Высокостабильная, надежная электронно-оптическая колонна новой конструкции с 4-линзовым конденсором позволяет управлять интенсивностью пучка и углом его сходимости независимо друг от друга.
Артикул: 5-363073
Растровый микроскоп JEOL JIB 4000
Под заказ
- Разрешение изображений во вторичных электронах 5 нм (при ускоряющем напряжении 30 кВ)
- Ток пучка до 60 нА (при ускоряющем напряжении 30 кВ)
- Апертурная диафрагма 12-позиционная
Артикул: 5-363074
Растровый микроскоп JEOL JIB 4510
Под заказ
- Источник электронов Катод на основе монокристалла LaB6
- Ускоряющее напряжение 0,3 - 30 кВ
- Увеличение x5 – x300 000
Артикул: 5-363075
Растровый микроскоп JEOL JASM 6200
Под заказ
- Модули до 6 (светлое поле и и ультрафиолетовое излучение в базовой комплектации)
- Объективы 40x Иммерсионная линза
- CCD камера Высокочувствительная цветная CCD, 1,600 x 1,200 пикселей
Артикул: 5-363076
Растровый микроскоп JEOL JSM IT-300
Под заказ
- Формат файлов изображений BMP, TIFF или JPEG
- Компьютер ПК (настольный ПК), ОС Windows®7
- Дисплей 23-дюймовый ЖК-монитор (с сенсорной панелью)
Артикул: 5-363077
Растровый микроскоп JEOL JSM IT-100
Под заказ
- Диапазон рабочих отрезков от 5 до 48 мм
- Вакуумный шлюз Опция
- Низковакуумный режим Доступен
Артикул: 5-363078
- Максимальный размер образца 70 мм в диаметре и 50 мм в высоту
- Формат файлов изображений BMP, TIFF или JPEG
- Компьютер Настольный ПК с ОС Windows®7 64 бит
- Дисплей 23-дюймовый сенсорный ЖК-монитор
Артикул: 5-363079
Растровый микроскоп JEOL JIB 4610F
Под заказ
- Источник электронов Термополевой катод Шоттки (ZrO/W)
- Ускоряющее напряжение 0,1 - 30 кВ
- Увеличение x20 – x1 000 000
Артикул: 5-363080
Растровый микроскоп JEOL JSM 7100F
Под заказ
- Разрешение 1,2 нм (30 кВ), 3,0 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
- Ускоряющее напряжение 200 В - 30 кВ
- Ток пучка 1 пА - 200 н
Артикул: 5-363081
Растровый микроскоп JSM-7100F/TTL
Под заказ
- Разрешение 1,2 нм (30 кВ), 2,0 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
- Ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ
- Ток пучка 1 пА - 200 н
Вход на сайт
Раздел в разработке.
Отменить заказ
Ваша корзина
| Наименование | Цена | Кол-во | Стоимость | Удалить |
Ваша корзина пока пуста. | ||||
Итого:0 руб.
Ваша корзина