Измерители параметров полупроводниковых приборов

• Требуемое число гнёзд: 2
• Макс. напряжение источника: ±200 В
• Макс. сила тока источника: ±1 A
• Разрешение при измерении напряжения: 2 мкВ
• Разрешение при измерении силы тока: 10 фA

• Требуемое число гнёзд: 1
• Макс. напряжение источника: ±100 В
• Макс. сила тока источника: ±100 мA
• Разрешение при измерении напряжения: 0,5 мкВ
• Разрешение при измерении силы тока: 10 фA

• Требуемое число гнёзд: 1
• Макс. напряжение источника: ±100 В
• Макс. сила тока источника: ±100 мA
• Разрешение при измерении напряжения: 0,5 мкВ
• Разрешение при измерении силы тока: 1 фA

• Требуемое число гнёзд: неприменимо
• Макс. напряжение источника: ±100 В
• Макс. сила тока источника: ±100 мA
• Разрешение при измерении напряжения: 0,5 мкВ
• Разрешение при измерении силы тока: 0,1 фA

• Базовый блок

• Модуль коммутации с фемтоамперными токами утечки
• Матричные коммутаторы не ухудшают характеристик анализатора параметров полупроводников
• Поддержка полной конфигурации Кельвина
• 14 внутренних измерительных трактов
• Функция компенсации при измерении емкости
• Светодиодный дисплей, клавиатура или световое перо (по заказу), доступные при управлении с передней панели
• Полоса пропускания 30 МГц

• Базовый блок

• 14-канальный модуль коммутации с малыми токами утечки

• Базовый блок

• Модуль коммутации 10 х 12

• 24-канальный модуль мультиплексора

• Тестовое напряжение: 5В (DC)
• Тестовая колодка: 28-контактная
• Время тестирования: 0.8с/ИМС
• Функциональные клавиши: 6 клавиш (6 функций)
• Цифровые клавиши: 10 клавиш (0…9)
• Напряжение питания: 110В/220В ±10%, 50/60Гц
• Размеры: 335 х 105 х 300 мм
• Вес: 1.5 кг

• Тестовое напряжение: 5В (DC)
• Тестовая колодка: 24-контактная
• Время тестирования: 0.8с/ИМС
• Функциональные клавиши: 7 клавиш (TYPE, AUTO, TEST, ^, Ў, POWER ON/OFF)
• Напряжение питания: Батарея 1,5В (АА) х4 или через адаптер 6В/0.5А (опция)
• Размеры: 160 х 45 х 110 мм
• Вес: 0.34 кг

• Измерение параметров полупроводниковых приборов (ППП) и контроль тест-структур на пластинах в процессе их производства, анализ брака.
• Синхронизация с другими используемыми измерительными устройствами
• Ограничение тока и напряжения на измеряемом объекте по установленному порогу
• Вычисление расчётных параметров ППП и их функциональных зависимостей по результатам измерений
• Документирование и передача результатов измерений параметров ППП в электронном виде по локальной сети
• Создание баз данных стандартных тестов по изделиям
• Не требуется специальных знаний в области программирования

• Измерение параметров полупроводниковых приборов (ППП) и контроль тест-структур на пластинах в процессе их производства, анализ брака.
• Синхронизация с другими используемыми измерительными устройствами
• Ограничение тока и напряжения на измеряемом объекте по установленному порогу
• Вычисление расчётных параметров ППП и их функциональных зависимостей по результатам измерений
• Документирование и передача результатов измерений параметров ППП в электронном виде по локальной сети
• Создание баз данных стандартных тестов по изделиям
• Не требуется специальных знаний в области программирования