Модель: HAWK-8220WS – прецизионная установка измерения прочности механических соединений бампов на пластине
Применение: Установка HAWK-8220WS представляет собой тестер, предназначенный для выполнения тестов на сдвиг или на отрыв бампов на полупроводниковых пластинах диаметром 8”-12”. Установка позволяет выполнять измерения в полностью автоматическом режиме – для этого предусмотрена возможность импорта электронной карты пластины. Кроме того, установка совместима с автоматизированным оборудованием для перемещения и подачи пластин KOVIS WH.
Краткое описание и технические характеристики:
Выполняемые тесты: тест бампов на сдвиг (Bump shear), тест бампов на отрыв (Cold Bump Pull test). Система управляется двумя эргономическими манипуляторами (джойстиками)
Особенности системы:
- Разработана специально для выполнения тестов на пластине
- Прецизионный контроль перемещения инструмента по осям XYZ позволяет выполнять тест на прочность соединений микробампов
- Возможность автоматической загрузки-выгрузки пластин при работе в комбинации с оборудованием для перемещения и подачи пластин KOVIS
- Возможность автоматизированного тестирования на основе электронной карты пластины
- Работа с пластинами диаметром 8”-12”
- Точность измерения в пределах ±0,15%
- Интуитивно понятный интерфейс, быстрое обучение
- Быстрое перемещение инструмента к заданной позиции на пластине по клику мыши на соответствующую точку на изображении пластины
- Точность позиционирования инструмента по высоте при выполнении теста на сдвиг ±1 мкм
- Опции: захват картинки, измерение высоты бампа, автоматическое выполнение теста и др.
- Простая и интуитивно понятная система настроек выполнения теста (скорости, высот, перемещений, классификации результатов теста и пр.)
- Возможность выполнения тестов соответствии с принятыми в полупроводниковой промышленности международными стандартами (JEDEC, MIL, EIA).
Опции:
- Полностью автоматическое тестирование с загрузкой/выгрузкой пластин
- Удаление механических загрязнений, осколков
- Защита от коробления пластин
- Импорт электронной карты пластины для автоматизации тестирования
- Камера высокого разрешения для захвата изображений