предназначен для проведения неразрушающего контроля полупроводниковых приборов, в частности для выполнения анализа отказов после операции монтажа флип-чипов
увеличение: 50Х – 500Х (максимум 1000Х)
окуляры: PL10X/25mm широкоугольные с вынесенной точкой фокусировки
Вы можете добавить в нее товар, кликнув по иконке "Купить" возле каждого товара.
Чтобы добавить еще единицу товара, кликните по иконке повторно либо перейдите в корзину и отредактируйте количество товара.