| Анализатор коэффициента битовых ошибок BERTScope 12,5 Гбит/с Textronix BSA125C Тестеры коэффициента битовых ошибок обладают превосходными характеристиками и исключительной гибкостью, позволяющей значительно сократить сроки разработки новых изделий и снизить расходы, связанные с тестированием на соответствие стандартам. Эти приборы прекрасно справляются со своей основной задачей быстрым и надежным выявлением ошибок в цифровых потоках. Применение • Проверка/измерение параметров устройств • Проверка совместимости систем последовательной передачи данных • Анализ целостности сигнала • Тестирование электрических/оптических приемников в условиях максимальной нагрузки • Автоматическое тестирование допусков джиттера CDR Возможности • Генерация кодовых последовательностей и анализ ошибок, высокоскоростные измерения коэффициента битовых ошибок (BER) до 26 Гбит/с • Встроенный генератор сигнала максимальной нагрузки для тестирования глазковой диаграммы в условиях максимальной нагрузки (SRS) и автоматического тестирования допусков джиттера. • Встроенный, коррелированный анализ глазковой диаграммы BER по маске «годен/не годен» для PCI Express, USB, SATA и других последовательных шин. • Локализация ошибок и анализ контура BER посредством сигналов псевдослучайной двоичной последовательности со скоростью до 26 ГБ/с. Преимущества • Объединение генерации и анализа в одном приборе позволяет тестировать BER приемников для современных стандартов последовательных шин 2-го и 3-го поколения. • Испытательная скорость передачи, максимальная нагрузка и последовательности данных могут изменяться во время работы независимо друг от друга, позволяя генерировать широкий спектр сигналов для проверки устойчивости ИМС/систем. • Расширенные возможности отладки по сравнению с другими тестерами BER за счет представления результатов в виде знакомой глазковой диаграммы, позволяющей сравнивать их с шаблоном конкретного стандарта. • Быстрый анализ целостности сигнала, касающейся BER. Локализация ошибок предоставляет подробные диаграммы BER, ускоряя разделение ошибок BER на детерминированные и случайные. В комплект поставки входит: • Краткое руководство по эксплуатации • Кабель питания • Мышь • Кабель-разветвитель PS2 • Три коротких кабеля с малыми потерями • Адаптер DVI |
| Опция | Описание | BSA85C | BSA85CPG | BSA125C | BSA125CPG | BSA175C | BSA175CPG | BSA260C | BSA260CPG |
| F2 | F/2 генерация джиттера 8G/10.3125G (не- обходима опция STR) |
• | • | • | • | • | • | • | • |
| STR | Генератор сигналов максимальной на- грузки (включает опции ECC, MAP, PL, XSSC, JTOL, SF) |
• | •* | • | • | • | • | • | • |
| XSSC | Расширенная тактовая частота с распреде- ленным спектром (SSC) (входит в STR) |
• | • | • | • | • | • | • | • |
| PCISTR | Генерация расширенных сигналов макси- мальной нагрузки для PCIe |
• | • | • | • | • | • | • | |
| J-MAP | ПО разложения джиттера | • | • | • | • | ||||
| ECC | Эмуляция кодирования с коррекцией ошибок (ПО) (входит в STR) |
• | • | • | • | ||||
| JTOL | Шаблоны допуска на джиттер (ПО) (ис- пользуется только с STR) |
• | • | • | • | ||||
| LDA | ПО анализа живых данных (входит в STR) | • | • | • | • | ||||
| MAP | ПО анализа распределения ошибок (входит в STR) |
• | • | • | • | ||||
| PL | Пакет тестов физического уровня (ПО) (входит в STR) |
• | • | • | • | ||||
| PVU | Обработка компенсации PatternVu (ПО) | • | • | • | • | ||||
| SF | ПО фильтрации символов (используется с STR) | •** | • | • | • | ||||
| SLD | Испытательные живые данные (ПО) | • | • | • | • |
*-В BSA85CPG обязательно должна быть установлена опция STR.
**-Для этой модели поставляется с опцией STR
| Серия BERTScope® BSA | Серия BERTScope® CR | Серия BERTScope® DPP | Серия BERTScope® BA | |
| Тип | Измерение коэффициента битовых ошибок с функциями осциллографа |
Универсальное прецизионное восстановление и анализ тактовой частоты |
Производительный анализ последовательных данных |
Поиск источников битовых ошибок |
| Макс. скорость потока | 8,5 – 26 Гбит/с | 12,5 – 28,6 Гбит/с | 12,5 Гбит/с | 1,5 – 1,6 Гбит/с |
| Применение | • Измерение параметров ско- ростных цифровых устройств с помощью встроенного генератора кодовых последо- вательностей, обнаружение ошибок и генерация сигналов максимальной нагрузки • Анализ целостности сигнала – коррелированная глазковая диаграмма BER, пиковый джиттер, карта джиттера, измеренные и экстраполиро- ванные контура BER, тести- рование по маске и анализ добротности • Опциональный встроенный генератор калиброванного сигнала максимальной на- грузки SJ, SI, RJ и BUJ для тестирования глазковой диа- граммы и допусков джиттера, включая: • 6, 11 и 25 G CEI • PCI Express 3.0 • USB 3.0 • Fibre Channel • 10/40/100 G Ethernet • SATA & SAS • SFP+/SFI и XFP/XFI |
• Непрерывное восстановление тактовой частоты для данных, передаваемых со скоростью от 150 Мбит/с до 12,5, 17,5 или 28,6 Гбит/с • Восстановление тактовой частоты существующих и будущих стандартов после- довательных шин, включая: 16XFC, 100GBASELR-4, CEI-28 G-SR, PCI-e Gen. 3, 10/40/100 G Ethernet, SAS, SATA • Непрерывные, выбираемые пользователем полосы ФАПЧ от 200 кГц до 12 МГц, опцио- нально до 24 МГц • Автономная работа, со- вместная работа с другим испытательным оборудова- нием, с приборами семейства BERTScope или DSA8200 |
• Измерение параметров высокоскоростных, сложных устройств • Сертификационные испыта- ния последовательных по- токов данных на соответствие промышленным стандартам • Разработка/проверка скорост- ных компонентов и систем ввода/вывода |
• Измерение параметров полу- проводниковых приборов • Производственное тестиро- вание по маске глазковой диаграммы, тестирование BER и джиттера • Функциональное тестирова- ние систем спутниковой связи • Функциональное тестиро- вание систем беспроводной связи • Тестирование оптоволоконных компонентов и систем • Оценка упреждающей коррек- ции ошибок |
