Мультифотонный конфокальный микроскоп Nikon A1 MP+, A1R MP+
Мультифотонный конфокальный лазерный микроскоп А1MP+ компании Nikon позволяет визуализировать сверхглубокую динамику в живых организмах со скоростью до 420 кадров в секунду. Возможно использование инфракрасного лазера 1300 нм и нового детектора NDD, не требующего десканирования, на базе GaAsP с возможностью получения изображений на глубине свыше 1,4 мм.
| A1 MP+ | ||
| Порт ввода-вывода | 2 лазерных порта ввода 3 порта ввода лазерного излучения 4 порта вывода сигнала для 4-х канального PMT-детектора, спектрального детектора, системы VAAS (дополнительной) и детектора стороннего производителя (FCS/FCCS/FLIM) |
|
| Лазер для мультифотонной микроскопии | Совместимый лазер | Mai Tai HP/eHP DeepSee (Newport Corp.) Chameleon Vision II (Coherent Inc.) |
| Модуляция | метод: AOTF (акустооптический настраиваемый фильтр) или AOM (акустооптический модулятор) Метод: Акустооптический модулятор Управление: регулирование мощности, обратная маска, установка экспозиции в изучаемой области |
|
| Оптика для падающего излучения | 700-1080 нм, автоматическая юстировка | |
| Лазер для конфокальной микроскопии (опция) | Совместимый лазер | 405 нм, 440/445 нм, 488 нм, 561/594 нм, 638/640 нм, аргоновый лазер (457 нм, 488 нм, 514 нм), гелий-неоновый лазер (543 нм) |
| Модуляция | метод: AOTF (акустооптический настраиваемый фильтр) или AOM (акустооптический модулятор) управление: контроль мощности каждой длины волны, контроль экспозиции изучаемой области |
|
| Лазерный блок | стандартный: LU4A 4-лазерный блок A или C-LU3EX 3-лазерный блок EX опциональный: C-LU3EX 3-лазерный блок EX (когда в качестве стандартного лазерного блока выбран 4-лазерный блок A) LU-N4, LU-N4S, LU-N3, LU-NV |
|
| Детектор, не требующий десканирования, (NDD) для многофотонной микроскопии | Длина волны | 480-650 нм |
| Детектор | 4 PMT (ФЭУ) | |
| Куб флуоресцентных фильтров | Рекомендуемые наборы фильтров для мультифотонной микроскопии: 492SP, 525/50, 575/25, 629/53, DM458, DM495, DM511, DM560, DM593 | |
| Тип детектора | Эпископический NDD детектор (для Ni-E/FN1/Ti-E) Диаскопический NDD детектор (для Ni-E) Эпископический GaAsP NDD детектор (для FN1) |
|
| Стандартный детектор Флуоресценции (опция) | Длина волны | 400-750 нм (400-650 нм для мультифотонного наблюдения) |
| Детектор | A1-DU4 4 PMT (ФЭУ) A1-DUG 2 GaAsP + 2 PMT (ФЭУ) |
|
| Светофильтр | 6 наборов светофильтров, крепятся в каждое из трех держателей для светофильтров рекомендованные длины волн: 450/50, 482/35, 515/30, 525/50, 540/30, 550/49, 585/65, 595/50, 700/75 | |
| Диаскопический детектор (опция) | Длина волны | 440-645 нм |
| Детектор | PMT (ФЭУ) | |
| Сканирующая головка | Стандартный процесс получения изображения | Сканер: гальванический сканер x2 Размер в пикселях: максимально 4096 x 4096 пикселей Скорость сканирования: Стандартный режим: 2 к/с (512 x 512 пикселей, в оба направления), 24 к/с (512 x 32 пикселя, в оба направления) Быстрый режим: 10 к/с (512 x 512 пикселей, в оба направления), 130 к/с (512 x 32 пикселя, в оба направления)*1 Трансфокатор: 1-1000x бесступенчатый режим сканирования: X-Y, X-T, X-Z, XY вращение, в произвольном направлении |
| Диапазон ИК лазера | 700-1000 нм | |
| Дихроичное зеркало | Метод малого угла падения лучей, позиций: 8 Стандартный фильтр: 405/488, 405/488/561, 405/488/561/638, 400-457/514/IR, 405/488/543/638, BS20/80, IR, 405/488/561/IR |
|
| Спектральный детектор (с гальваническим сканером) (опция) | Количество каналов | 32 канала |
| Диапазон улавливания волн | 400-750 нм (400-650 нм для мультифотонного наблюдения) | |
| Скорость получения спектрального изображения | 4 к/с (256 x 256 пикселей), 1000 линий в секунду Размер в пикселях: максимально 2048 x 2048 пикселей |
|
| Разрешение по длинам волн | 80 нм (2,5 нм), 192 нм (6 нм), 320 нм (10 нм) диапазон длин волн меняется с шагом 0,25 нм | |
| Разделение | Высокоскоростное, точное разделение | |
| Совместимые микроскопы | Инвертированный микроскоп ECLIPSE Ti-E, микроскоп с неподвижным предметным столом ECLIPSE FN1, прямой микроскоп ECLIPSE Ni-E (с фокусирующей револьверной головкой или фокусирующим столом) | |
| Дополнительная комплектация | Система виртуальной адаптируемой диафрагмы VAAS | |
| Программное обеспечение | Воспроизведение/ Формирование изображения | 2D-анализ, объемное 3D-изображение, 4D-анализ, спектральное разделение |
| Области применения | FRAP, FLIP, FRET (дополнительно), фотоактивация, получение трехмерных изображений во времени, получение многоточечных изображений во времени, колокализация | |
| Рекомендуемые условия установки | Температура от 20°С до 25°С ± 1°C, круглосуточное кондиционирование воздуха, относительная влажность воздуха 75% или меньше (без образования конденсата), темное помещение или защита микроскопа от света, виброизоляционный стол | |
