Под заказ

Конфокальный микроскоп Nikon A1R+

Артикул: 5-363407

  • Совместимый лазер 405 нм, 440/445 нм, 488 нм, 561/594 нм, 638/640 нм, аргоновый лазер (457 нм, 488 нм, 514 нм), гелий-неоновый лазер (543 нм)
  • Модуляция метод: AOTF (акустооптический настраиваемый фильтр) или AOM (акустооптический модулятор) контроль: контроль мощности каждой длины волны, контроль экспозиции изучаемой области
  • Лазерный блок стандартный: LU4A 4-лазерный блок A или C-LU3EX 3-лазерный блок EX опциональный: C-LU3EX 3-лазерный блок EX (когда в качестве стандартного лазерного блока выбран 4-лазерный блок A), LU-N4, LU-N4S, LU-N3, LU-NV

Конфокальный микроскоп Nikon A1+ 
Инновационная серия конфокальных лазерных микроскопов А1+ компании Nikon позволяет получать высококачественные изображения клеток и молекулярных процессов с непревзойденной скоростью до 420 кадров в секунду. А1 удовлетворит самые изысканные требования в области визуализации. Возможен спектральный анализ и комплектация гибридным детектором на GaAsP.

 

Порт ввода-вывода 2 лазерных порта ввода 4 сигнальных порта вывода для 4-х канального PMT-детектора, спектрального детектора, системы VAAS (дополнительной) и детектора стороннего производителя (FCS/FCCS/FLIM)
Лазер Совместимый лазер 405 нм, 440/445 нм, 488 нм, 561/594 нм, 638/640 нм, аргоновый лазер (457 нм, 488 нм, 514 нм), гелий-неоновый лазер (543 нм)
Модуляция метод: AOTF (акустооптический настраиваемый фильтр) или AOM (акустооптический модулятор) контроль: контроль мощности каждой длины волны, контроль экспозиции изучаемой области
Лазерный блок стандартный: LU4A 4-лазерный блок A или C-LU3EX 3-лазерный блок EX опциональный: C-LU3EX 3-лазерный блок EX (когда в качестве стандартного лазерного блока выбран 4-лазерный блок A), LU-N4, LU-N4S, LU-N3, LU-NV
Стандартный детектор флуоресценции Длина волны 400-750 нм
Детектор A1-DU4 4 PMT (ФЭУ)
A1-DUG 2 GaAsP + 2 PMT (ФЭУ)
Светофильтр 6 наборов светофильтров, крепятся в каждое из трех держателей для светофильтров рекомендованные длины волн: 450/50, 482/35, 515/30, 525/50, 540/30, 550/49, 585/65, 595/50, 700/75
Диаскопический детектор Длина волны 450-650 нм
Детектор PMT
Сканирующая головка Стандартный процесс получения изображения Сканер: гальванический сканер x2
Размер в пикселях: максимально 4096 x 4096 пикселей
Скорость сканирования:
Стандартный режим: 2 к/с (512 x 512 пикселей, в оба направления),24 к/с (512 x 32 пикселя, в оба направления)
Быстрый режим: 10 к/с (512 x 512 пикселей, в оба направления),130 к/с (512 x 32 пикселя, в оба направления)*1
Трансфокатор: 1-1000x бесступенчатый режим сканирования: X-Y, X-T, X-Z, XY вращение, в произвольном направлении
Высокоскоростное получение изображений Сканер: резонансный сканер (X-ось, резонансная частота 7,8 кГц), гальванический сканер (Y-ось)
Размер в пикселях: максимально 512 x 512 пикселей
Скорость сканирования: от 30 к/с (512 x 512 пикселей) до 420 к/с (512 x 32 пикселей),15600 линий в секунду (линейная скорость)
Трансфокатор: 7-ступенчатый (1x, 1.5x, 2x, 3x, 4x, 6x, 8x)
Режим сканирования: X-Y, X-T, X-Z
Метод получения изображений: стандартное получение изображений, высокоскоростное получение изображений, параллельные фотоактивация и получение изображений
Дихроичное зеркало Метод малого угла падения лучей, позиций: 8
Стандартный фильтр: 405/488, 405/488/561, 405/488/561/638, 405/488/543/638, 457/514, BS20/80
Дополнительный фильтр: 457, 405/488/543, 457/514/561, 440/514/594
Точечная диафрагма изменение в пределах 12-256 мкм (плоскость 1 изображения)
Спектральный детектор (с гальваническим сканером) (опция) Количество каналов 32 канала
Диапазон улавливания волн 400-750 нм
Скорость получения спектрального изображения 4 к/с (256 x 256 пикселей), 1000 линий в секунду
Размер в пикселях: максимально 2048 x 2048 пикселей
Разрешение по длинам волн 80 нм (2,5 нм), 192 нм (6 нм), 320 нм (10 нм) диапазон длин волн меняется с шагом 0,25 нм
Разделение Высокоскоростное, точное разделение
Совместимые микроскопы Инвертированный микроскоп ECLIPSE Ti-E, микроскоп с неподвижным предметным столом ECLIPSE FN1, прямой микроскоп ECLIPSE Ni-E (с фокусирующей револьверной головкой или фокусирующим столом)
Дополнительная комплектация Система виртуальной адаптируемой диафрагмы VAAS
Программное обеспечение Воспроизведение/Формирование изображения 2D-анализ, объемное 3D-изображение, 4D-анализ, спектральное разделение
Области применения FRAP, FLIP, FRET (дополнительно), фотоактивация, получение трехмерных изображений во времени, получение многоточечных изображений во времени, колокализация
Рекомендуемые условия установки Температура 23? ± 5?C, относительная влажность воздуха 60% или меньше (без образования конденсата)

 

Запросить цену в 1 клик
Комментарии