Система Cross-Section Polisher (CP) JEOL IB-09020CP

Система Cross-Section Polisher (CP) IB-09020CP предназначена для получения поперечных сечений образцов. Данный прибор не требует предварительной пробоподготовки. Часть образца закрывается специальной защитной пластиной, защищающей ее от воздействия пучка ионов аргона. Пучок падает перпендикулярно поверхности пластины и вытравливает часть образца, незащищенную пластиной. Этот процесс очень напоминает резку бумаги «под линейку». Малая энергия пучка (2 – 6 кэВ) и прямой угол падения сводят к минимуму радиационные повреждения получаемого поперечного сечения, и, тем самым, сохраняют исходные структуру и фазовый состав образца, что особенно важно для таких исследований как дифрактография отраженных электронов (например, при помощи детектора HKL Channel 5 EBSD), а так же для исследований методами EDS, WDS и Ожэ-спектроскопии.

CP позволяет получить чистый отполированный поперечный срез материалов, которые трудно поддаются механической полировке. СР хорошо подходит для изготовления поперечных срезов мягких материалов, таких как медь, алюминий, золото, различные припои, полимеры и т.д., сложных для отрезки материалов, таких как керамика, стекло и композитные материалы на их основе. Кроме того, СР позволяет изготовить поперечный срез многослойного материала. Некоторые примеры использования данного оборудования для исследования различными методами приведены ниже.

Cross-Section Polisher IB-09020CP оборудован CCD камерой, позволяющей наблюдать за процессом травления в диапазоне увеличений 20х – 100х. Это позволяет контролировать процесс травления для достижения наилучшего результата.

Управление Cross-Section Polisher IB-09020CP осуществляется с помощью сенсорного экрана.

Дополнительно, CP может быть оборудован 8 кВ источником, а так же вращающимся держателем образцов. Подробно примеры применения Cross-Section Polisher IB-09020CP описаны здесь.