Габариты подложек/масок от 4” до 22” (от 100 до 550 мм)
Контроль в видимом, УФ и ИК диапазонах
Инспекция в произвольной последовательности
Самообучающаяся система
Лазерная автофокусировка в режиме реального времени
Масштабируемая производительность
Масштабируемая чувствительность к дефектам
Последовательная инспекция от кристалла к кристаллу
Последовательная инспекция от пластины к пластине
Онлайн и оффлайн анализ дефектов
Классификация дефектов на базе предустановленных фильтров
Программное и аппаратное обеспечение конфигурируется в соответствии с требованиями заказчика
Вход на сайт
Раздел в разработке.
Заказать звонок
Отменить заказ
Ваша корзина
Наименование
Цена
Кол-во
Стоимость
Удалить
Ваша корзина пока пуста.
Вы можете добавить в нее товар, кликнув по иконке "Купить" возле каждого товара.
Чтобы добавить еще единицу товара, кликните по иконке повторно либо перейдите в корзину и отредактируйте количество товара.