Объективы серии CFI T Plan EPI SLWD обладают сверхдлинными рабочими отрезками наряду с коррекцией хроматических аберраций высших порядков. Это обеспечивает легкость при манипуляциях с образцами. К серии добавлен объектив 10х.
Благодаря использованию фазовых линз Френеля коррекция хроматических аберраций возможна даже при малых расстояниях между линзами, что позволяет получить большие величины рабочих отрезков, чем при использовании обычных линз.
| Объектив | Числовая апертура NA | Рабочий отрезок WD, мм |
| CFI T Plan EPI SLWD 10x | 0.20 | 37.00 |
| 0.30 | 30.00 | |
| CFI T Plan EPI SLWD 50x | 0.40 | 22.00 |
| CFI T Plan EPI SLWD 100x | 0.60 | 10.00 |
Объективы T Plan EPI SLWD предназначены для работы в светлом поле.
Благодаря большому рабочему расстоянию длиннофокусные объективы оптимально подходят для высоких образцов, особенно в сочетании с прямыми инспекционными микроскопами.
