Особенности
- Диапазон частот: 20 Гц - 500 кГц (АКИП-6113/1), 20 Гц – 2 МГц (АКИП-6113/2);
- Измерение 18 параметров: комплексное сопротивление на переменном токе (R, Z, X), сопротивление постоянному току (RDC), ЭПС (ESR), проводимость (G, Y, B), ёмкость (Сs/ Cs), индуктивность (Ls/ Ls), тангенс угла потерь (D), добротность (Q), фазовый сдвиг °/rad (θ);
- Погрешность измерений: ±0,05 % …±5 % (в зависимости от диапазона/ уровня);
- Высокое быстродействие: до 1000 изм/ с;
- Параллельная/ последовательная схема замещения;
- Режим полярных координат: Z+фазовый сдвиг (θ)/ Y+фазовый сдвиг (θ);
- Широкие функциональные возможности по сбору и анализу информации;
- Режим усреднение значения (1 - 255);
- Скорость измерения (F> 10 кГц): 1 мс/ 3,3 мс/ 90 мс/ 220 мс (быстр.+/ быстр./ сред./ медл.);
- Тест «Годен/ Негоден» (Pass/Fail) в режимах: «Δ-абс. знач./ Δ-изм %»;
- Табличные автоизмерения «List scan» (автотест по 201 точке - параметры «частота/ уровень/ постоянное смещение U/ I»),
- Функция «Trace Display»: построение графика с выбором числа точек развертки (51/ 101/ 201/ 401/ 801 точек, параметры - «частота, напряжение, постоянное смещение»);
- Режим сортировки (Comparator): 10 номиналов выборки (bins 1- bins 10);
- Выбор пределов измерения: авто или ручной (HOLD);
- Цветной графический ЖК-дисплей, разрешение 6 разрядов;
- Режимы калибровки: КЗ (Short)/ ХХ (Open)/ Согл. (Load);
- Автоматический контроль ALC уровня тест-сигнала (АРУ);
- Выходной импеданс: 30Ω, 100Ω (переключаемый);
- Гнездо USB на передней панели для подключения flash-накопителя;
- Внутренняя память: 100 М (профили настроек/ Set, экранная графика);
- Интерфейс: RS-232, USB (USBTMC/ USBCDC), Handler (сортировщик);
- Сенсорный ЖКИ, диагональ 25 см (1280 х 800 точек).
Технические характеристики
Параметр | Значение | |||
АКИП-6113/1 | АКИП-6113/2 | |||
Диапазон индикации параметра (при измерении) | ||||
Сопротивление (R, X, IZI) | 0, 001 мОм … 99,9999 МОм | |||
Проводимость (G, B, IYI) | 0,00001мкС … 99,9999 См | |||
Ёмкость (C) | 0,00001 пФ … 9,99999 Ф | |||
Индуктивность (L, Lk) | 0,00001 мкГн … 99,9999 кГн | |||
Добротность (Q) | 0,00001 – 99999,9 | |||
Тангенс угла потерь (D) | 0,00001 – 9,99999 | |||
Фазовый сдвиг (Z-qd) | -179,999 … +179,999° | |||
Фазовый сдвиг (Z-θr) | -3,14159 рад ~ +3,14159 рад | |||
Δ - % | ± (0,000% – 999,9%) | |||
Сопротивление на постоянном токе (RDC*) | 0, 001 мОм … 99,9999 МОм | |||
Напряжение Vdc | ± 0 В … ± 999,9 В | |||
Ток Idc | ± 0 А … 999,9 А | |||
Погрешность измерений * | ± 0,05 % … ± 5 %* (R, Z, X, G, Y, B, L, C) | |||
Пределы измерений | ||||
15 пределов (импеданс/ LCR) | автовыбор (Auto), удержание (Hold) с дискретным изменением (INCR +/-), номинальный (Nom - для режима сортировки) | |||
14 пределов (RDC) | ||||
Тест сигнал | ||||
Частота тест-сигнала (F) 1 | 20 Гц …500 кГц | 20 Гц …2 МГц | ||
Максимальное разрешение (на 20 Гц) | 0,1 мГц | |||
Тип тест-сигнала | синусоидальный | |||
Погрешность установки F | ±0,01 % | |||
Предустановл. фикс. значения | 43 номинала | 56 номиналов | ||
Уровень тест-сигнала | Uисп | 5 мВ - 20 Вскз (до f< 1 МГц), 5 мВ - 15 Вскз (до f> 1 МГц), максимальное разрешение 1 мВ | ||
Iисп | 50 мкА - 100 мАскз,максимальное разрешение 10 мкА | |||
Погреш. уст. уровня Uисп. | ±(10%×Уст.+ 2 мВ) | |||
Режим RDC (изм. пост. током) | 100 мВ - 20 В (максимальное разрешение 1 мВ) | |||
Индикация тест-сигнала (monitor) | VAC MON | 5 мВ - 20 Вскз, разрешение 1 мВ | ||
IAC MON | 50 мкА - 100 мА, разрешение 10 мкА | |||
Выходной импеданс источника | 30Ω, 100Ω (переключаемый) | |||
Запуск измерений | Внутр. (автоматический), ручной, внешний, по шине (INT, MAN, EXT, BUS) | |||
Постоянное смещение (DC BIAS) | ||||
Внутренний источник постоянного смещения | Udc | 0…± 40В (максимальное разрешение 1 мВ); (±1%*Уст.+ 5 мВ) | ||
Idc | 0... ±100 мА (максимальное разрешение 10 мкА) | |||
Погрешность установки | ± 1%+ 5 мВ (≤ 2В); ± 2% + 8 мВ (> 2В) | |||
Внутренний источник тока | 0 мА…2А (± 2% + 2 мА), максимальное разрешение 1 мА | |||
Память | ||||
Объём внутренней памяти | 100 М (профили тестирования/ SET) | |||
Функции внутренней памяти | Запись/ считывание параметров настроек (100 М) | |||
Внеш. USB-диск | Запись/ считывание: файлы настройки, цифровой регистратора (Rec), экранная графика (скриншоты): Bmp/ GIF/ PNG | |||
Дополнительные функции и режимы | ||||
Режим «Таблица» (LIMIT Table) | Табличные значения допусковых измерений (10 выборок) | |||
Задержка запуска | Регулируемая: 0…60 с (разрешение 1 мс) | |||
Параметр табл. измерений (List) | Частота, уровень тест-сигнала, постоянное смещение (напряжение/ ток) | |||
Графическая развертка (Curve scanning) | Отображение на экране графика измеряемых параметров с выбором числа точек развертки (51/ 101/ 201/ 401/ 801) и параметра качания (частота, напряжение, постоянное смещение U/I) | |||
Автовыбор параметра | Режим «Auto LCZ»: Вкл/ выкл | |||
Звуковая индикация | Откл./ В допуске/ Вне допуска (для режима Pass/ Fail) | |||
Режим сортировки (Comp) | 10 номиналов выборки (bins 1- bins 10), счетчик | |||
Дисплей | ||||
Сенсорный ЖКИ | Цветной, диагональ 25 см, графическая TFT матрица (65.000 цв.) | |||
Разрядность шкалы | 6 разрядов (максимальная индикация «999999») | |||
Разрешение ЖКИ | 1280 х 800 точек (формат «16:9») | |||
Режим индикации | Абсолютное значение, Δ-изм., Δ-изм. в %, усреднение (1 - 255) | |||
Формат отображения ** | Основной/ вспомогательный параметр (25 комбинаций) ** | |||
Мониторинг (одновременная индикация) | 4 параметра (выбор): Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, Z, Y, D, Q, θr, θ°, R, X, G, B | |||
Скорость измерения (F≥10кГц) | 1 мс/ 3,3 мс/ 90 мс/ 220 мс (быстр.+/ быстр./ сред./ медл.) | |||
Общие данные | ||||
Интерфейс | RS-232/ RS-485 (SCPI), USB (Host/ Device), LAN, Handler (сортировщик) | |||
Условия эксплуатации | 0°С…40°С и относительная влажность до 90 % | |||
Напряжение питания | ~198- 242 В (±10 %), 47- 63 Гц (Pпотр. ≤ 130 ВА) | |||
Габаритные размеры | 430 х 177 х 265 мм | |||
Масса | ~11 кг |
Примечание:
*- В зависимости от диапазона частот и уровня тест-сигнала (для скорости измерений Медленно/ Средне).
** Отображаемые комбинации параметров: Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-DCR, Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, DCR, Ls-DCR, Z-θr, Z-θd, R-X, Rp-Q, Rs-Q, Y-θr, Y-θd, G-B.
Базовая погрешность измерений: Сопротивление/ Z (в %):
Частота/ Сопротивление (Z) | 20…50 Гц | 50…100 Гц | 100Гц…10 кГц | 100Гц…10 кГц | 100…150 кГц | 150…300 кГц | 150…300 кГц | 500…800 кГц | 500…800 кГц |
Значения погрешности измерений (в %) | |||||||||
0,01…0,1 Ом | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 5 |
0,1…0,3 Ом | 0,65 | 0,65 | 0,65 | 0,65 | 0,65 | 0,65 | 0,65 | 2 | 5 |
0,3…3 Ом | 0,25 | 0,25 | 0,25 | 0,25 | 0,25 | 0,25 | 0,25 | 2 | 5 |
3…10 Ом | 0,25 | 0,1 | 0,1 | 0,1 | 0,1 | 0,25 | 0,65 | 2 | 5 |
10…15 Ом | 0,25 | 0,1 | 0,1 | 0,1 | 0,1 | 0,25 | 0,65 | 2 | 2 |
15 Ом…32 кОм | 0,25 | 0,1 | 0,05 | 0,05 | 0,1 | 0,25 | 0,65 | 0,65 | 2 |
32…100 кОм | 0,25 | 0,1 | 0,05 | 0,1 | 0,25 | 0,65 | 2 | 2 | 5 |
100…320 кОм | 0,25 | 0,1 | 0,05 | 0,1 | 0,65 | 2 | 2 | 2 | 5 |
320…600 кОм | 0,25 | 0,1 | 0,1 | 0,25 | 0,65 | 2 | 2 | 2 | 5 |
600 кОм…1 МОм | 0,25 | 0,25 | 0,25 | 0,65 | 0,65 | 2 | 2 | 2 | 5 |
1…3 МОм | 0,65 | 0,65 | 0,65 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 5 |
3…32 МОм | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 5 |
32…100 МОм | 5 | 5 | 5 | 5 | 5 | 5 | 5 | 5 | 5 |
Диапазон частот и точки частоты при настройке испытательного сигнала:
Диапазон частот (F) | Точки тестирования в заданном частотном диапазоне | Разрешение |
20 Гц ≤ F ≤ 99,999 Гц | 20,0000 Гц,-> 20,0001 Гц ……99,9999 Гц | 0,0001 Гц |
100Гц ≤ F ≤ 999,9 Гц | 100,000 Гц,-> 100,001 Гц ……999,999 Гц | 0,001 Гц |
1кГц ≤ F ≤ 9,999 кГц | 1,0000 кГц,-> 1,00001 кГц ……9,99999 кГц | 0,01 Гц |
10 кГц ≤ F ≤ 99,99 кГц | 10,0000 кГц,-> 10,0001 кГц……99,9999 кГц | 0,1 Гц |
100 кГц ≤ F ≤ 999,9 кГц | 100,000 кГц,-> 100,001 кГц……1 MГц | 1 Гц |
1 MГц ≤ F ≤ 2 MГц | 1,00000 MГц,-> 1,00001 MГц……2 MГц | 10 Гц |